卷封微测计

取自 食品百科全书

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	(3)盖深(C)之测量：		(3)盖深(C)之测量：
-	用盖深测量器放于盖上测量。如使用时，将测微器直立于盖深测量部位，利用测微器之突出部份测量，其突出部份之全长为5㎜，测量结果之计算为5㎜减测量值＝盖深，若突出部份磨损应正确量出其全长代替5㎜校正确。	+	用盖深测量器放于盖上测量。如使用时，将测微器直立于盖深测量部位，利用测微器之突出部份测量，其突出部份之全长为5㎜，测量[[结果]]之计算为5㎜减测量值＝盖深，若突出部份磨损应正确量出其全长代替5㎜校正确。
	[[category:罐头食品]]		[[category:罐头食品]]

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当前修订版本

micro-meter

有两种规格:一种为标准型:一种为三缩胫型:供量铝罐卷封宽度(W)之不同。

可以测量二重卷缔之长度、厚度。至于深度，则用卷封微测计之突出量规行之。轴上有0至13之刻度，每刻度为1㎜，在0、5及10之刻度上注明数值，并在其刻度线下侧加刻0.5 ㎜之刻度。转动套管上有0至49刻度，每刻度0.01㎜，测微器之砧面与(推进)螺旋轴之间用来测定T．W．CH及BH等，测微器之前端伸缩突起之全长为5㎜用以测量盖深，卷封测微计测量卷缔厚度(T)、宽度(W)及深度(C)的方法如下:

(l).卷封厚度(T)之测量:

以食指夹持测微器置于卷封上，使测微器之砧面与盖深壁同一斜度，测量其最大厚度。

(2).卷封宽度(W)及下垂之测量:

以姆指夹测微器使其平滑部贴住罐身测定之。

(3)盖深(C)之测量：

用盖深测量器放于盖上测量。如使用时，将测微器直立于盖深测量部位，利用测微器之突出部份测量，其突出部份之全长为5㎜，测量结果之计算为5㎜减测量值＝盖深，若突出部份磨损应正确量出其全长代替5㎜校正确。